格蘭達自主創新成果亮相SEMICON2016 2016-10-31
格蘭達自主創新成果亮相SEMICON2016
本報訊 3月15-17日，第二十六屆國際半導體展SEMICON China 2016在上海新國際博覽中心舉行。展會由中國電子商會（CECC）主辦，我公司的GIS126全自動三次光學檢測機及GIT121 IC芯片測試機作為參展產品再次亮相此次國際級盛會，并贏得客戶的關注和好評。
展會現場，公司技術人員認真地為每一位客人答疑解惑，利用機器現場演示，與客商一起深入的探討GIS126全自動三次光學檢測機與GIT121 IC芯片測試機技術，場面有序而熱烈。公司此次展會旨在拓展視野、開啟思路、交流合作，進一步提升公司品牌知名度和影響力，同時也進一步了解同行先進企業的產品及特點，以便更好的完善自身產品結構，發揮更好的優勢。通過展會,我公司不僅加強了與老客戶的溝通聯絡，更借由這一行業盛會尋找及開發更多有合作意向的潛在客戶，收獲頗豐。 （陳紅紅）
圖為格蘭達上海SEMICON2016展臺一角 供圖/陳紅紅
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