產(chǎn)品解決方案 > 硬盤領(lǐng)域
- 硬盤相關(guān)工裝夾具、設(shè)備、零件的工程服務(wù)、設(shè)計(jì)和系統(tǒng)集成。
- 硬盤裝配、生產(chǎn)、測(cè)試設(shè)備的批量復(fù)制
來(lái)圖加工服務(wù)：
- 備件
- 工裝治具
- 設(shè)備改造
- 精密模組
- 電路板、軟板、程序燒錄、工程測(cè)試、在線測(cè)試
Self Servo Writer
本機(jī)提供硬盤伺服碼寫入功能，同時(shí)提供硬盤刻寫測(cè)試前所需模擬電路連接和測(cè)試硬盤功能。
技術(shù)參數(shù):
- 每臺(tái)設(shè)備有60或者90個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元
CCT TESTER
本機(jī)用于根據(jù)客戶要求進(jìn)行參數(shù)設(shè)定、功能檢測(cè)、品質(zhì)檢查、硬盤標(biāo)簽打??；以及SATA II接口功能測(cè)試。
技術(shù)參數(shù):
- 每臺(tái)設(shè)備有40個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元（2.5” 移動(dòng)硬盤）
- 測(cè)試時(shí)間10分鐘
STR Tester
本機(jī)用于測(cè)試硬盤組件基本的機(jī)械性能和工作狀態(tài)，并驗(yàn)證伺服寫信號(hào)。
技術(shù)參數(shù):
- 每臺(tái)設(shè)備有256個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元（2.5”移動(dòng)硬盤）
- 高溫測(cè)試功能，溫度25-60攝氏度間可調(diào)
- 測(cè)試時(shí)間30小時(shí)（含伺服寫）
HDAT Tester
本機(jī)用于硬盤的自檢測(cè)，基本的功能檢測(cè)、品質(zhì)檢查。
技術(shù)參數(shù):
- 每臺(tái)設(shè)備有32個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元（2.5” 移動(dòng)硬盤）
- 測(cè)試時(shí)間10分鐘
- 無(wú)塵車間內(nèi)使用
通信領(lǐng)域
粵公網(wǎng)安備 44031002000389號(hào)